"Z A T W I E R D Z A M
& & & & & & & & & & & & & & & & & &
Prof. dr hab. inż. Radosław TRBICSKI
Dziekan Wydziału Mechatroniki i Lotnictwa
ANTOWICY
Warszawa, dnia ..........................
S Y L A B U S P R Z E D M I O T U
NAZWA PRZEDMIOTU: MIERNICTWO
Wersja anglojęzyczna: SURVEYING
Kod przedmiotu: ..... WMLAEWSI-Mie, WMLATWSI-Mie
Podstawowa jednostka organizacyjna (PJO): Wydział Mechatroniki i Lotnictwa
(prowadząca kierunek studiów)
Kierunek studiów: Mechatronika
Specjalność: Eksploatacja przeciwlotniczych zestawów rakietowych,
Radioelektronika przeciwlotniczych zestawów rakietowych
Poziom studiów: studia pierwszego stopnia
Forma studiów: studia stacjonarne dla kandydatów na żołnierzy zawodowych
Język prowadzenia: polski
Sylabus ważny dla naborów od roku akademickiego: 2012/2013
1. REALIZACJA PRZEDMIOTU
Osoby prowadzące zajęcia: dr inż. Stanisław ŻYGADAO
PJO/instytut/katedra/zakład: Wydział Mechatroniki i Lotnictwa/ Katedra Mechatroniki
2. ROZLICZENIE GODZINOWE
a. Studia stacjonarne
forma zajęć, liczba godzin/rygor
punkty
(x egzamin, + zaliczenie na ocenÄ™, z zaliczenie)
semestr
ECTS
wykłady ćwiczenia laboratoria projekt seminarium
razem
V 44/+ 26 10/z 8/z 4
razem 44/+ 26 10/z 8/z 4
3. WYMAGANIA WSTPNE
żð Matematyka umiejÄ™tnoÅ› różniczkowania i caÅ‚kowania oraz obliczeÅ„ statystycznych
żð Podstawy elektroniki dziaÅ‚anie podstawowych ukÅ‚adów analogowych i cyfrowych
żð Metrologia bÅ‚Ä™dy pomiaru, pomiary wielkoÅ›ci elektrycznych
4. ZAKAADANE EFEKTY KSZTAACENIA
odniesienie do
Efekty kształcenia
Symbol efektów kształcenia
Student, który zaliczył przedmiot,
dla kierunku
W1 K_W02
zna podstawowe pojęcia metrologiczne, metody pomiarowe i układy
pomiarowe do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych i nie-
elektrycznych
W2 ma wiedzÄ™ w zakresie elektrotechniki, elektroniki analogowej i cyfro- K_W04
wej
W3 ma podstawowÄ… wiedzÄ™ w zakresie architektury sieci komputerowych K_W11
oraz podstawowych przyrządów i przetworników pomiarowych
W4 K_W12, W_32B_8, 9
zna podstawowe parametry i charakterystyki podstawowych przyrzÄ…-
dów i przetworników pomiarowych
U1 potrafi pozyskiwać informacje z literatury, baz danych i innych zródeł K_U01, K_U19
oraz integrować i dokonywać interpretacji uzyskanych informacji,
umie korzystać z katalogów i instrukcji
U2 K_U07
potrafi dokonać pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych
i nieelektrycznych
U3 potrafi dobrać podstawowe parametry systemu pomiarowego oraz K_U11, U_32B_6
dokonywać interpretacji uzyskanych wyników
5. METODY DYDAKTYCZNE
żð Zarówno wykÅ‚ad jak i ćwiczenia rachunkowe, laboratoryjne sÄ… prowadzone metodami aktywizujÄ…cymi
wykorzystując w szczególności: twórcze rozwiązywanie problemów, rozwijając u studentów umiejęt-
ność dyskusji na tematy zajęć
żð WykÅ‚ady prowadzone sÄ… w formie audiowizualnej,
żð Ćwiczenia rachunkowe zwiÄ…zane z zagadnieniami omawianymi na wykÅ‚adzie, obejmujÄ… przypomnie-
nie, utrwalenie i usystematyzowanie wiedzy wcześniej nabytej, uzyskanej jako rezultat ukierunkowa-
nej pracy własnej poprzez rozwiązywanie zadań i problemów
żð Ćwiczenie laboratoryjne zwiÄ…zane z zagadnieniami omawianymi na wykÅ‚adzie ukierunkowano na
praktyczne przypomnienie, utrwalenie i usystematyzowanie wiedzy wcześniej nabytej.
6. TREÅšCI PROGRAMOWE
liczba godzin
lp temat/tematyka zajęć
wykł. ćwicz. lab. proj. semin.
1 2 3 4 5 6 7
Podstawowe wiadomości o pomiarach w mechatronice (po-
1. jęcia, definicje, charakterystyki). Struktura i organizacja sys- 2
temów pomiarowych
Analogowe przyrządy i systemy pomiarowe. Przemysłowe
2. 4 2 2
przetworniki pomiarowe
Cyfrowe przyrzÄ…dy i systemy pomiarowe. Zbieranie i prze-
3. 4 2 2
chowywanie danych pomiarowych
Automatyzacja procesów pomiarowych
4. 2
Komputerowe wspomaganie procesów pomiarowych. Rodza-
5. je i zastosowanie interfejsów w przemysłowych systemach 4 2
pomiarowych
Magistrale systemowe. Standard RS-232. Standard IEC-625
6. 2 2
Karty przetwarzania danych. Specjalizowane karty pomiaro-
7. 2
we do nadzorowania procesów przemysłowych
2
Przemysłowe systemy pomiaru i akwizycji danych
8. 2 2
Oprogramowanie procesów generacji, pobierania i przetwa-
9. 2 2
rzania danych z pomiarów
Metody projektowania przemysłowych systemów pomiaro-
10. 2 2
wych
Razem: 26 10 8
TEMATY ĆWICZEC RACHUNKOWYCH
Działanie analogowych mierników wielkości ciągłych i ziarni- 2
1.
stych wg schematów blokowych i ideowych
Działanie cyfrowych mierników wielkości ciągłych i ziarni-
2. 2
stych wg schematów blokowych i ideowych
Działanie magistral systemowych RS-232 oraz IEC-625 wg
3. 2
schematów blokowych i ideowych
Działanie przemysłowych systemów pomiarowych wg sche-
4. 2
matów blokowych
Projektowanie systemów pomiarowych z wykorzystaniem
5. 2
pakietu HP VEE.
Razem: 10
TEMATY ĆWICZEC LABORATORYJNYCH
Pomiar i analiza sygnałów z wykorzystaniem oscyloskopu
1. 2
analogowego i cyfrowego
Pomiar i analiza sygnałów z wykorzystaniem analogowego
2. 2
i cyfrowego analizatora widma
Rejestracja i wizualizacja sygnałów z wykorzystaniem pakie-
3. 2
tu HP VEE
Pomiar wielkości elektrycznych z wykorzystaniem magistrali
4. 2
HPIB
Razem: 8
7. LITERATURA
podstawowa:
A. Chwaleba: Metrologia elektryczna. 2000
M.M. Stabrowski: Miernictwo elektryczne. Cyfrowa technika pomiarowa 1994
W. Kwiatkowski: Miernictwo elektryczne. Analogowa technika pomiarowa 1999
W. Nawrocki Komputerowe systemy pomiarowe 2004
uzupełniająca:
J. Piotrowski: Podstawy miernictwa 2002
W. Winiecki: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych 1997
8. SPOSOBY WERYFIKACJI ZAKAADANYCH EFEKTÓW KSZTAACENIA
Przedmiot zaliczany jest na podstawie średniej z pozytywnych ocen za wszystkie efekty kształcenia.
Efekt W1 sprawdzany jest podczas ćwiczeń rachunkowych oraz na kolokwium i egzaminie.
Efekt W2 sprawdzany jest podczas ćwiczeń rachunkowych i na kolokwium oraz podczas sprawdzania
wiedzy teoretycznej przed ćwiczenia laboratoryjnymi
Efekt W3 sprawdzany jest podczas ćwiczeń rachunkowych i na kolokwium oraz podczas sprawdzania
wiedzy teoretycznej przed ćwiczenia laboratoryjnymi
Efekt W4 sprawdzany jest głównie podczas sprawdzania wiedzy praktycznej podczas ćwiczeń laborato-
ryjnych
3
Efekt U1 sprawdzany jest na ćwiczeniach rachunkowych, sprawdzianie oraz na podstawie sprawozdań z
ćwiczeń laboratoryjnych,
Ocena Opis umiejętności
5,0 Potrafi bezbłędnie dobrać metody, a następnie przeprowadzić analizę układu lub systemu
(bdb) pomiarowego, uzyskując bezbłędne wyniki. Potrafi bezbłędnie pomierzyć charakterystyki
wybranego układu mechatronicznego. Samodzielnie dobrać przyrządy pomiarowe i zesta-
wić stanowiska. Dokonać interpretacji pomierzonych charakterystyk. Bezbłędnie napisać
wnioski z przeprowadzonych pomiarów.
4,0 Potrafi właściwie dobrać metody, a następnie przeprowadzić analizę układu lub systemu
(db) pomiarowego, uzyskując właściwe wyniki. Potrafi właściwie pomierzyć charakterystyki wy-
branego układu mechatronicznego. Dobrze dobrać przyrządy pomiarowe i zestawić stano-
wiska. Dokonać interpretacji pomierzonych charakterystyk. Dobrze napisać wnioski z prze-
prowadzonych pomiarów.
3,0 Potrafi dobrać metody, a następnie przeprowadzić analizę układu lub systemu pomiarowe-
(dst) go, uzyskując poprawne wyniki. Potrafi pomierzyć charakterystyki wybranego układu me-
chatronicznego. Dobrać przyrządy pomiarowe i zestawić stanowiska. Dokonać interpretacji
pomierzonych charakterystyk. Poprawnie napisać wnioski z przeprowadzonych pomiarów.
Efekt U2 sprawdzany jest praktycznie na ćwiczeniach laboratoryjnych i indywidualnym sprawdzianie
praktycznym
Ocena Opis umiejętności
5,0 Potrafi bezbłędnie pomierzyć charakterystyki wybranego układu mechatronicznego. Samo-
(bdb) dzielnie dobrać przyrządy pomiarowe i zestawić stanowiska. Dokonać interpretacji pomie-
rzonych wielkości. Dokonać bezbłędnych obliczeń niepewności pomiarowej. Bezbłędnie
napisać wnioski z przeprowadzonych pomiarów.
4,5 Potrafi bezbłędnie pomierzyć charakterystyki wybranego układu mechatronicznego. Wła-
(db+) ściwie dobrać przyrządy pomiarowe i zestawić stanowiska. Dokonać interpretacji pomierzo-
nych wielkości. Dokonać bezbłędnych obliczeń niepewności pomiarowej. Bezbłędnie napi-
sać wnioski z przeprowadzonych pomiarów.
4,0 Potrafi dobrze pomierzyć charakterystyki wybranego układu mechatronicznego. Dobrze
(db) dobrać przyrządy pomiarowe i zestawić stanowiska. Dokonać interpretacji pomierzonych
wielkości. Dokonać dobrych obliczeń niepewności pomiarowej. Dobrze napisać wnioski z
przeprowadzonych pomiarów.
3,5 Potrafi poprawnie pomierzyć charakterystyki wybranego układu mechatronicznego. Dobrać
(dst+) przyrządy pomiarowe i zestawić stanowiska. Poprawnie zinterpretować pomierzone wielko-
ści. Dokonać poprawnie obliczeń niepewności pomiarowej. Poprawnie napisać wnioski z
przeprowadzonych pomiarów.
3,0 Potrafi pomierzyć charakterystyki wybranego układu mechatronicznego. Dobrać przyrządy
(dst) pomiarowe i zestawić stanowiska. Dokonać zadowalającej interpretacji pomierzonych wiel-
kości. Napisać wnioski z przeprowadzonych pomiarów.
Efekt U3 sprawdzany jest na podstawie sprawozdań z ćwiczeń laboratoryjnych i zadań dodatkowych.
Egzamin jest przeprowadzany w formie pisemnej
Kierownik
Autor sylabusa
Katedry Mechatroniki
.................................................
.....................................................
dr inż. Stanisław ŻYGADAO
Prof. dr hab. inż. Bogdan ZYGMUNT
4
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE I0 04 2012 OiOwykład 2 zdrowie i mierniki jego ocenyMiernikMiernik pojemnooeci kondensatorówmiernik mocy optycznej w światłowodzie 1lab3 miernictwoMikroprocesorowy miernik częstotliwości 4MHz 150MHz opis02 Oczekiwanastopa zwrotu Mierniki ryzyka Model jednowskaznikowyid870miernikiElektrotechnika elektronika miernictwo 02miernik tetna2014 15 Makro 2S ćwiczenie 3 4 Mierniki makroekonomiczneK9K proste pomiary miernikiemwięcej podobnych podstron