13

S& UiA* * •/»*•

,<»•

$5¹ ²'

1¹

s²

Statystyczne sterowanie procesami

Karta X-S ma oczywiście także a raczej niedogodności.

Pierwszą z nich jest konieczność stosowania dużych próbek. Może to być w niektórych przypadkach kosztowne - kosztują przecież pomiary, a dokładniej czas zużyty na zmierzenie większej liczby wyrobów. Poważną barierą w stosowaniu tego typu kart kontrolnych są również stosunkowo skomplikowane --obliczenia. Bez wykorzystania komputera lub chociaż dobrego kalkulatora trudno będzie mówić o sprawnym prowadzeniu wykresu odchylenia standardowego. Ponieważ jednak komputeryzacja coraz szybciej wkracza do polskich przedsiębiorstw, omawiana karta może mieć coraz większe zastosowanie przy sterowaniu procesami.

Przy stosowaniu karty X - S trzeba pamiętać o spełnieniu kilku warunków:

• dane muszą mieć rozkład normalny,

• za pomocą jednej karty może być nadzorowany tylko jeden

parametr, chcąc mierzyć i monitorować kilka właściwości wyrobu, należy prowadzić kilka kart kontrolnych,

• należy zmierzyć co najmniej 20-25 próbek, zanim obliczy się

i wykreśli granice kontrolne i linię środkową,

• próbki muszą mieć stałą i dużą liczność.

■SR-':.'. • • • "/.•>.²'•• ••.—

... ^ <; ■••>■■■ . <■• , i? - i-.V: V²■; • '

' 'v'_...

t²;²4

lit

108

•• • . ²■■■ > ■ t‘.v< ■ - ' Iat!

• % Wm

Przykład 5.8

# ,, •. t

. . f: V ² ² .²• - ² V •. >:;² ² •• >

W przedsiębiorstwie produkującym nakrętki do śrub zdecydowano się na wykorzystanie karty kontrolnej Y-S do monitorowania parametru, którym jest zewnętrzna szerokość nakrętki. Jest to parametr bardzo istotny, gdyż zbyt szerokie nakrętki nie będą

*•'».• e • ² —

pasowały do klucza, zbyt wąskie będą miały luz i szybciej się zniszczą. W sterowanym procesie zakładana (idealna) szerokość sześciokątnej nakrętki powinna wynosić 15 mm. Ponieważ kontrola jest bardzo prosta, tania i szybka (dysponujemy suwmiarką elektroniczną) zdecydowano się właśnie na kartę Y-S i na pobieranie próbek o liczności 10 sztuk każda. Wyniki pomiarów przedstawiono w tabeli 5.2.