2012 05 25 29 14

wego zawierającego eto działek elementarny cii o wartości 10 um każda* Wzożec ten umieszcza się na stoliku pomiarowym podwójnego mikroskopu w takim położeniu, aby kreski jego po-działki były równoległe do nici pajęczej ustawionej pionowo w okularze, prqy czym w celu zabezpieczenia się przed przypadkową zmianą jego położenia, spoczywająca na stoliku dolna powierzchnia wzorca powinna być przyklejona do niego cienką warstwą wazeliny*

Następnie należy zmierzyć odległości kresek ograniczających m działek elementarnych, notując wskazania i b₂ głowicy okularowej w punktach krańcowych. Liczba m zależy od powiększenia V w obiektywie, przy czym zwykle przyjmuje się:

m = 100 przy V = 60x m — 90 przy V = 30x m * 40 przy V = 14x m = 20 przy V = 7*

Wartość współczynnika k oblicza się ze wzoru:

k - ,^{10 x} * / 6 /

(b₂ - bj

uane charakterystyczne dla podwójnego mikroskopu

Tablica 3*

Zakres

pomiar*

L

ttax

IZB

Sposób obróbki powierzchni.

powię

kszenie

obie

ktywu

Całko

wite

powię

kszenie

Odl. prze dnu od obiektywu w mm

9 i pola widzenia w

mm

Klasa

chro

powa

tości

5-1^5

Dokładne toczenie diamentem. Dokładne szlifowanie* Docieranie• Dogładzanie•

60 x

520 x

0,03 x

0,3

9-10

1,5-5,0 5,0-15

Dokładne toczenie* Dokładne szlifowanie* Bardzo dokładne wiercenie* Rozwlercanie.

30 x

260 x

0.1

0,6

7- 9

Toczenie*

Fre zowanle•

Dokładne wiercenie* Szlifowanie»

14 x

120 x

2,0

1,3

5- 7

15-50

Zgrubne toczenie* Zgrub, frezowanie. Zgrub.szlifowanie•

7 x

60 x

8,0

2,5

4- 6