Zdjęcie002 (2)
Technikę RUS stosuje |i| raczej do c.ę. ^(pierwiastków i
można wówczas osiągnąć czulośc 1u.! ■ ai /nucnuu energię wiązki pierwotnej i masę jonów można wpnv : x 'izow.ic pierwiastki lżejsze, ale tylko wtedy gdy są one^ównymi składnik .iiiii i\m.-:icgo uaicitulu.
Mimo maiqj zdolności rozdzielczej okol o 1 uunj, mdBą RBS stosuje się powszechnie w badaniach powicraefeni., ponieważ pozwala ona na określenie głębokościowych rozkładów pierwiastków nie niszcząc przy tym powierzchni analizowanych próbek, fonadto wyi.orz> siując zjawisko tzw. cbpnnelUngu można wyznaczyć położenie atomów w komórce.
Metoda spektrometrii jonów wtórnych SI MS ( Sccootisiy łon Mass Spectrometry) 1 /
W&k.n jonów gazów szlachetnych o energii rzędu kilku keV wywołuje ąa powierzchni matari&łów procesy, które można podzielić na dwie grupy .
• zmiany strukturalne w obszarze oddziaływania wiązki
• procesy emisji
Pierwsze z nich obejmują wbudowywanie jonów w sieć bombardowanego materiału oraz przekazywanie energii do sieci, co prowadzić może do reakcji chemicznych i zmiany uporządkowania struła rałne&n w sieci.
Procesy emisji obejmują:
• emisję wtórnych elektronów
- emisję atomów lub ich klasterów
- emisję fotonó v
- emisję jonów wtórnych lub ich klasterów
Analiza masy jonów wtórnych oraz ich klasterów pozwala oKreśiić skład powierzchni badanych materiałów i w tym celu wykorzystuje się urządzenia:
• mikroskop jonowy, charakteryzujący się dużą zdolnością rozdzfAzą wynoszącą ok. 1 pm
- mikro sonda jonowa będąca odmianą klasycznego spektrometru masowego, w której wiązka jonów o energii ? — 15 keV jest ogniskowana na powierzchni o średnicy ok. 1 pm
- kwadropulowego spektrometru masowego z filtrem energii, gdzie jeny o energii 100 - 5000 keV padają na powierzchnię ok. 1 pm
Stosowane w pierwszym i drugin. typie urządzeń duże gęstości prądów jonowych powodują szybkie usuwanie warstw powierzchniowych jeczez tzw. trawienie rozpylające (ang. sputter efching) co utrudnia badanie zewnętrznych warstw powierzchni. Pozwala to jednak na określenie profili głębokościowych koncentracji poszczególnych składaków. Mniejsze gęstości prądów obniżają szybkość trawiona rozpylającego co umożliwia badanie składu zewnętrznych' warstw powierzchniowych.
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
Zdjęcie003 (2) Technikę RBS stospjc się racie} do wykrywania cięższych pierwiastków można wówcias os
Image0990 Wykorzystując elektroniczną technikę obliczeniową i stosując metodę elementów skończonych,
DSCN6137 I96 ReOa Korzyści Technikę tę stosuje się do energetyzowania posiłków ubogich w energię alb
foto5 Do opryskiwania można używać opryskiwaczy, których sprawnoió techniczna jest
Zdjęcie007 Weryfikacja <o Zespół czynności zmierzający do określa stanu technicznego części i pod
Zdjęcie1157 zwiększenie presji selekcyjnej. Stosując kompleksowy materiał infekujący można uzyskać o
Zdjęcie636 Technika zabiegu owariektomii □ Zbieg z dwóch cięć bocznych - prostopadłych do kręgosłupa
foto5 Do opryskiwania można używać opryskiwaczy, których sprawnoió techniczna jest
Zdjęcie0155 (12) i Mechanizm oddychania Płuca maja ogromna rezerwo Podczas najbardziej natężonego wd
43507 Zdjecie0926 1. Które preparaty stosujemy do znoszenia nadwrażliwości zębiny? ISeal&Pr
więcej podobnych podstron