skany006

skany006



Rys. 1.6. Układ do pomiarów charakterystyki

//; io (ao) diody w kierunku zaporowym

Przedmiotem pomiarów są diody z różnych materiałów półprzewodnikowych. Diody typu BYP-401 i BAVP-17 mierzymy w kierunku przewodzenia w zakresie od 0,1 do 100 mA. Na wykresach \g,iD=iD(uD) należy wyszczególnić podstawowe zakresy prądów diody. Na podstawie nachylenia i przebiegu charakterystyki w tych zakresach, ekstrapolowanych do punktu przecięcia z prostą wD=0, wyznaczyć charakterystyczne parametry równania (1.1). Określić także wartości współczynnika stałoprądowego prostowania dla każdej z diod przy |£/d|=±1V.

Przy opracowaniu wyników uwzględnić spadek napięcia na amperomierzu.

Uwaga: W kierunku zaporowym do diod przykładamy napięcie nie większe niż 10 V!


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
skany043 Anar: ;100 mA Rys.5.3. Układ do pomiarów charakterystyki iy. /,.(//«) diod stabilizacyjnych
• Schematy pomiarowe Rys. 7. Układ do pomiaru charakterystyk diod w kierunku przewodzenia a) dioda
Schematy pomiarowe Rys. 8.Układ do pomiaru statycznych charakterystyk tranzystora potowego złączoweg
/ Rys. 9. Układ do pomiaru charakterystyk diody elektroluminescencyjnej w kierunku przewodzenia (poł
4. Pomiar charakterystyki hiegu jałow ego. A Rys.l. Układ do pomiaru charakterystyk biegu
9 Rys.9. Układ do pomiaru przemieszczeń liniowych w osi maszyny 5.2. Pomiary: A. Rozrzut położeń i l
ScanImage11 2. Przebieg ćwiczenia2.1 Układ połączeń do pomiarów Rys 6    Układ do pom
badanie0 Rys. 2-3. Układ do pomiaru napięcia żarzenia przyjęty został warunkowo za równy zeru. W st
badanie5 Rys. 6-4. Układ do pomiaru pojemności międzyelektrodowych metodą dzielenia napięć kon
Rys. 2 Pierwszy schemat (Rys.i) przedstawia układ do pomiaru charakterystyki wyjściowej zasilacza
DSCF6658 272 + + Rys. 105. Układ służący do badania charak- Rys. 106. Układ do pomiaru potencjału ha
Rozdział 18 Rys.2. Zestawy pomiarowy do testowania czujników chemicznych: a) układ do pomiarów w ukł

więcej podobnych podstron