DSC00109

DSC00109



I. Opracowanie wyników pomiaru:

Suwmiarka:

Xi

X^r

(Xj- X$r)

n*i- Xir)'

4-t

2*dn-l

24,7

0,07

0,0049

24,6

-0,03

0.0009

24,6

-0,03

0,0009

0,052

0.104

24,6

24,63

-0,03

0.0009

0,0134

24,6

-0.03

0,0009

24,7

0.07

0.0049

|j](xi — xśr)2 jo,0134

dn_H n_1    5    =0,052mm

2*dn.,=2*0,052=0,104mm D=24,63±0,104mm

Mikrometr:

Xj

^śr

Xj- Xsr

(Xi- xJr)'

E(xi- xSr)-

dtv-i

2*«Ł-i

24,57

24,562

0.008

0,000064

0.0002S4

0.0075

0.015

24,56

-0,002

0.000004

24,55

-0,012

0,000144

24,57

0,008

0.000064

24,56

-0,002

0,000004

24,56

-0,002

0,000004

1


E(xi-xśr)2 /0.0002S4


n -1


2*dn-i=2*0,052=0,015mm D=24,562±0,015 mm


=0,0075mm



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
CCF20071014000 IV. Opracowanie wyników pomiaru: IV. Opracowanie wyników pomiaru: Suwmiarka: * X/
CCF20071021000 IV. Opracowanie wyników pomiaru: Tuleja 1:Suwmiarka dwustronna: Xi Xśr Xi- Xjr (Xi
img149 6. Opracowanie wyników pomiarów6.1.    Wprowadzenie Analiza wyników pomiarów j
skanuj0008 (310) 170 Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki21.4. Opracowanie wyników pomiarów 1.  &nb
IMG059 59 5.4. PRZEBIEG ĆWICZENIA I OPRACOWANIE WYNIKÓW 5.4.1. Pomiar rezystancji metodą techniczną
IMG097 97 8.4. PRZEBIEG ĆWICZENIA I OPRACOWANIE WYNIKÓW 8.4.1# Pomiary napięć, prądów 1 mocy z zasto

PC170311 4.2. Opracowanie wyników pomiarów Wykres zależności przemieszczenia górnej połówki matrycy
skanuj0008 (310) 170 Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki21.4. Opracowanie wyników pomiarów 1.  &nb

więcej podobnych podstron