tester elementów elektronicznych


Tester elementów elektronicznych P R O J E K T Y
Tester elementów
elektronicznych
AVT-5003
Elektronik hobbysta do
pielgnowania swojej pasji
najbardziej potrzebuje: nowych
Staram si wykorzystywaĘ czś- dodatniego i ujemnego o prądzie
pomysłw, elementw
ci z odzysku, troch w tym kilkunastu, kilkudziesiciu mi-
elektronicznych oraz pienidzy oszczdności, a troch troski o śro- liamperw. Mołe si okazaĘ przy-
dowisko naturalne. Najczściej datny takłe dla tych, ktrzy
na realizacj pomysłw
problem polega na tym, łe wiele w swojej pracy uływają jedynie
i zakup elementw.
elementw z odzysku ma czsto nowych elementw (czasami i one
Pomysły mołna mieĘ
zamazane oznaczenia lub nie mogą byĘ wadliwe) oraz dla elek-
własne lub połyczone. Nasze
wiadomo, czy są sprawne i czy tronikw amatorw, ktrzy chcie-
pismo prbuje dostarczaĘ je
nadają si do powtrnego ułycia. liby sprawdziĘ przed powtrnym
Czytelnikom. Kwoty na czści
Opracowałem zatem przyrząd, ułyciem stare czści. W czasie
mogą byĘ spore, ale dziki
dziki ktremu mołna określiĘ, niektrych testw przyrząd wspł-
dobremu pomysłowi pieniądze
czy dany element jest sprawny, pracuje ze zwykłym miernikiem
mołna pomnołyĘ.
a nawet z wystarczającą dokład- uniwersalnym.
Z elementami elektronicznymi
nością zmierzyĘ jego parametry.
bywa tak, łe czasem trudno Za pomocą testera mołna Opis układu
sprawdziĘ: Na rys. 1 przedstawiono sche-
je zdobyĘ, a te, ktre są do
- dławiki i cewki o indukcyjności mat ideowy testera elementw.
dyspozycji mogą byĘ
w zakresie 10H..10mH, Mołe wygląda na nieco zagmat-
uszkodzone. Tester mołe wic
- kondensatory o pojemności wany, ale zaraz okałe si, łe
byĘ pomocny do oceny
10pF..10nF oraz 10nF..5mF sposb realizacji poszczeglnych
sprawności posiadanych
- tranzystory PNP i NPN, funkcji układu jest całkiem pros-
elementw.
- stabilizatory szeregowe napiĘ ty.
dodatnich i ujemnych, Omwienie jego działania zacz-
- diody Zenera, n od zasilaczy, ktre dostarczając
- diody LED. napiĘ o rłnych polaryzacjach
Przyrząd generuje takłe sygnał umołliwiają realizacj kilku pros-
prostokątny w kilku podzakresach tych, ale połytecznych funkcji.
czstotliwości od 1Hz do 10kHz, Cały układ mołna zasiliĘ zarwno
mołe takłe dostarczyĘ napicia napiciem zmiennym, jak i stałym
Elektronika Praktyczna 3/2001
10
Tester elementów elektronicznych
Rys. 1. Schemat elektryczny testera.
niestabilizowanym. Napicie po datnie i ujemne o regulowanych nia stabilizatorw szeregowych ty-
wyprostowaniu jest stabilizowane wartościach. W obydwu przypad- pu 79xx i 79Lxx oraz 78xx i 78Lxx
przez układ U12. Napicie to, kach zastosowany został ten sam a takłe diod Zenera i LED.
o wartości +5V, dostpne jest układ typu TL497, ktry w przy- Napicie ujemne, poprzez styki
w gniedzie JP14 i dziki temu padku U10 wytwarza napicie przekanika PK1 i stabilizator U4,
tester mołe takłe pełniĘ rol dodatnie o poziomie regulowanym uływane jest takłe do zasilania
podrcznego zasilacza. Napicie potencjometrem PR2. Poziom na- szybkiego komparatora U6. Układ
5V oznaczone na schemacie sym- picia ujemnego wytwarzanego U6 pracuje w jednej gałzi z ukła-
bolem VCC zasila takłe dwie przez układ U11 reguluje si dami U7, U8 i U5, ktre biorą
przetwornice impulsowe U10 potencjometrem PR3. Napicia te udział w pomiarach małych war-
i U11 wytwarzające napicia do- uływane są głwnie do testowa- tości pojemności i indukcyjności.
Elektronika Praktyczna 3/2001
11
Tester elementów elektronicznych
Komparator U6 słuły do prze- w przypadku kondensatora okreś- tor. Ułycie układu scalonego jako
kształcenia sygnału z generatora lana jest w jednostce pojemności generatora jest spowodowane jego
U7 do postaci fali prostokątnej czyli faradzie (F), a jednostką mia- bardzo dobrymi właściwościami.
o poziomach TTL. Z wyjścia U7- ry dla indukcyjności jest henr (H). MC1648 działa z elementami
9 sygnał fali podawany jest na Zarwno pojemnośĘ, jak i induk- o wartościach z bardzo dułego
licznik U8 i przełącznik U5, a z je- cyjnośĘ uływanych na co dzie przedziału zarwno pojemności,
go wyjścia na wejście zliczające elementw elektronicznych są du- jak i indukcyjności, a w przypad-
procesora U1-14. Procesor zlicza- ło mniejsze i są zaledwie ułam- ku przyrządu pomiarowego to nie-
jąc impulsy i odpowiednio prze- kami jednostek podstawowych. zwykle wałna cecha. Ponadto wy-
kształcając otrzymaną informacj Dla określania tych wartości ułam- kazuje si dobrą stabilnością ter-
o czstotliwości sygnału, oblicza kowych przyjto uływaĘ przed miczną. Impulsy z wyjścia gene-
wartośĘ mierzonej indukcyjności jednostkami podstawowymi przed- ratora, tak jak to było wcześniej
lub pojemności. Poniewał prze- rostkw. Dla pojemności lista uły- opisane, są kształtowane przez
dział otrzymywanych w wyniku wanych przedrostkw jest troch komparator U6 a ich czstotliwośĘ
pomiaru wartości czstotliwości dłułsza nił dla indukcyjności, dzielona w układzie U8. Pomiar
jest duły (zawiera si od 300kHz a obie przedstawiają si nastpu- elementw w tak szerokim zakre-
do 16MHz), to czstotliwośĘ syg- jąco: sie powoduje, łe generowane im-
nału jest wstpnie dzielona 1F (1 farad) pulsy nie mogą byĘ zliczane
w dzielniku U8 tak, aby wewnt- 1mF = 10-3F bezpośrednio przez procesor po-
rzne układy procesora były w sta- 1F = 10-6F mimo zastosowania kwarcu o moł-
nie zliczyĘ impulsy. 1nF = 10-9F liwie maksymalnej czstotliwości
Pomiar wikszych wartości po- 1pF = 10-12F (24MHz) w zegarze taktującym.
jemności dokonywany jest na za- 1H (1 henr) Z tego powodu procesor poprzez
sadzie pomiaru nie czstotliwości, 1mH = 10-3H multiplekser U5 wybiera do po-
a długości impulsu generowanego 1H = 10-6H miaru czstotliwośĘ generatora
przez układ U9, do ktrego do- 1nH = 10-9H wstpnie podzieloną. Procesor, do-
łączany jest mierzony kondensa- Pomiar paramerw kondensato- konujący oblicze na podstawie
tor. Do wyprowadze procesora rw i cewek w oparciu o definicj odpowiednio przekształconego
U1-17, 16, 10 dołączone są linie ich jednostek podstawowych był- wzoru podanego wcześniej, pod-
słułące do testowania tranzysto- by kłopotliwy (np. 1F jest pojem- stawia do niego rzeczywistą war-
rw. Z kolei na wyprowadzeniu nością, ktra przy napiciu 1V tośĘ zmierzonej czstotliwości po-
procesora U1-23 pojawia si ge- gromadzi na okładkach kondensa- niewał zna zastosowany wcześ-
nerowany sygnał prostokątny, kt- tora ładunek 1 C - troch to niej stopie podziału.
ry poprzez wtrnik emiterowy T1 skomplikowane). Na szczście pa- Tester z niezłym przybliłeniem
podawany jest na wyjście JP1. rametry kondensatorw i cewek określa wartości elementw, jed-
Oprcz tego, do zada proce- mołna zmierzyĘ pośrednio, po- nak nie mołe byĘ traktowany jako
sora naleły obsługa wyświetlacza przez wykorzystanie ich jako ele- przyrząd pomiarowy. Na wynik
LCD 2x16 znakw, na ktrym menty rezonansowe w generato- pomiaru wpływa bowiem szereg
wyświetlane są informacje o ro- rach. Generator wytwarza impulsy czynnikw, na ktre ze wzgldu
dzaju pomiaru i jego wyniku. Do elektryczne, a ich zliczanie przez na prostot jego budowy nie ma
sterowania testerem słułą jedynie procesor to juł prosta sprawa. wpływu np. temperatura zew-
dwa przyciski S1 i S2. Przycis- ZalełnośĘ pomidzy pojemnością ntrzna, napicie zasilania gene-
kiem S2 wybiera si rodzaj testu, i indukcyjnością a czstotliwością ratora itp. DokładnośĘ oblicze
a S1 słuły do ustawiania korekcji układu rezonansowego określa zaleły takłe od znajomości war-
pomiaru (offsetu). PamiĘ EEP- wzr: tości drugiego elementu ułytego
ROM U3 przechowuje parametry f = 1/(2Ą"LC) w układzie rezonansowym. Do bu-
wcześniej zaprogramowanej ko- Znając wartośĘ jednego z ele- dowy testera mołna ułyĘ oglnie
rekcji. mentw układu rezonansowego ge- dostpnych elementw, jednak
Procesor w testerze, oprcz ste- neratora (kondensatora lub cewki) zastosowanie elementw lepszej
rowania jego pracą, musi takłe oraz mierząc czstotliwośĘ wy- jakości, np. kondensatorw nie-
wykonywaĘ wyjątkowo duło ob- tworzonych przez generator im- wrałliwych na temperatur oraz
licze. Jest nie tylko sterowni- pulsw, mołna obliczyĘ wartośĘ wcześniejsze dobranie ich wartoś-
kiem, ale takłe wyspecjalizowa- drugiego elementu układu rezo- ci zgodnie z podaną na schema-
nym kalkulatorem i znacznie ułat- nansowego, czyli dokonaĘ jego cie, tylko polepszy parametry tes-
wia prac z przyrządem. pomiaru. W testerze generatorem tera. Dodatkowo wprowadzony
jest układ U7 (MC1648), a rol układ offsetu pozwala skompen-
Pomiar małych elementu o znanej wartości pełni sowaĘ rozrzut wartości elementw
wartości pojemności albo kondensator C7, albo dławik ułytych do budowy testera.
i indukcyjności L3. Mierzony element dołączany
Zarwno kondensator, jak jest do gniazda JP4, JP5. Zalełnie Pomiar dułych
i cewka są elementami, ktre gro- od typu pomiaru, przekanik PK2 pojemności
madzą energi w rłnej postaci dołącza do mierzonego elementu Pomimo doskonałych paramet-
pola elektromagnetycznego. Zdol- jako drugi składnik układu rezo- rw układu MC1648, przy jego
nośĘ do gromadzenia tej energii nansowego dławik lub kondensa- pomocy nie mołna mierzyĘ po-
Elektronika Praktyczna 3/2001
12
Tester elementów elektronicznych
picie to, zalełnie od polaryzacji,
ustawia si potencjometrami PR2
lub PR3. Nastpnie, zalełnie od
rodzaju badanego stabilizatora, na-
leły podłączyĘ woltomierz do
gniazda JP15 lub JP16 i spraw-
dziĘ, czy napicie na jego wyjściu
Vo odpowiada wartości znamio-
nowej.
Testowanie diod Zenera
i LED
Okazuje si, łe najbardziej
podatne na zatarcie są napisy na
małych obudowach diod Zenera.
Tester umołliwia szybką identy-
Rys. 2. Rozmieszczenie elementów na płytce drukowanej.
fikacj ich napicia znamionowe-
jemności kondensatorw o wartoś- wzmacniacze, nie musimy si za- go, naleły tylko wcześniej, za
ciach znacznie przekraczających nadto przejmowaĘ ich parametra- pomocą omomierza, zidentyfiko-
10nF. Do tego celu wykorzystany mi. Wałniejsza od informacji waĘ, ktre z wyprowadze ele-
został dobrze znany wikszości o wzmocnieniu lub prądzie bazy mentu jest katodą, a ktre anodą.
Czytelnikw układ NE555 ozna- jest pewnośĘ, łe dany egzemplarz Nastpnie badany element naleły
czony na schemacie jako U9. jest sprawny i ewentualnie jakiego umieściĘ w gniazdach JP11 i JP12
Układ ten pracuje jak generator jest typu. Przyrząd umołliwia z anodą dołączoną do masy. Do
pojedynczego impulsu o czasie przeprowadzenie takich prostych gniazda JP17 naleły dołączyĘ
trwania zalełnym od wartości testw. Tranzystor, zalełnie od woltomierz, ktrym bdzie mołna
pojemności mierzonego kondensa- polaryzacji umieszczony w odpo- zmierzyĘ napicie Zenera badanej
tora dołączanego do gniazd JP6 wiednim złączu JP2 lub JP3, diody. Napicie +V, przykładane
i JP7 oraz od oporności rezystora dołączany jest do portw proce- do testowanej diody poprzez
R10. ZalełnośĘ pomidzy czasem sora. Na wyjściu portu P3.6 (WR) opornik R15, powinno byĘ o kil-
trwania impulsu a wartościami pojawia si kolejno stan niski ka woltw wiksze od napicia
obydwu elementw określa z ko- i wysoki i podawany jest na baz Zenera badanej diody. Zwiksza-
lei nastpujący wzr: T =1,1(RC). badanego tranzystora. W przypad- nie jego wartości za pomocą
Tym razem w czasie pomiaru ku sprawnego tranzystora n-p-n potencjometru PR2 nie powinno
procesor nie bdzie zliczał impul- stan wysoki bdzie go otwierał w znaczący sposb wpływaĘ na
sw, lecz za pomocą wejścia INT0 a stan niski zatykał, tranzystory p- wskazania dołączonego do testera
bdzie mierzył czas jego trwania -n-p bdą zachowywały si prze- woltomierza.
i na tej podstawie wyliczał pojem- ciwnie. Procesor testuje stan tran- Te same gniazda pomiarowe
nośĘ badanego kondensatora. Po- zystorw za pośrednictwem por- mołna wykorzystaĘ do sprawdza-
miar rozpoczyna podanie na wej- tw P3.7 (RD) i P3.0 (RxD). Ele- nia diod LED, ale wwczas anoda
ście wyzwalające U9-2 krtkiego menty uszkodzone lub o pomylo- diody LED powinna byĘ umiesz-
dodatniego impulsu. Od tego mo- nej polaryzacji nie bdą si ot- czona w gniedzie JP11.
mentu na wyjściu układu U9-3 wierały i zatykały w takt sygnału
rozpoczyna si generacja pojedyn- na bazie. W tak prosty, ale sku- Generator impulsw
czego dodatniego impulsu o cza- teczny sposb mołna zbadaĘ tran- prostokątnych
sie trwania określonym przez za- zystory, co do ktrych nie ma Tester został wyposałony
lełności podanego wcześniej wzo- pewności czy są sprawne. w podrczny generator przebiegw
ru. Impuls poprzez wejście INT0 prostokątnych o wypełnieniu 50%.
uruchamia wewntrzne liczniki Testowanie stabilizatorw Generowane są przebiegi o nast-
procesora zliczające impulsy jego Szeregowe stabilizatory, zar- pujących czstotliwościach: 1Hz,
własnego zegara taktującego. Po wno dułej, jak i małej mocy, 10Hz, 100Hz, 1kHz i 10kHz. Im-
zakoczeniu generacji impulsu mołna sprawdziĘ korzystając pulsy prostokątne podawane są
procesor odczytując zawartośĘ z gniazd JP9 i JP10 (na schemacie z portu P2.2 procesora na wtrnik
swoich licznikw określa czas oznaczonych właśnie symbolem emiterowy T1, a stamtąd na wyj-
trwania impulsu. Nastpnie pod- stabilizatora). Tak jak w przypad- ście JP1. Poniewał wyjście nie
stawiając do wzoru znane wartoś- ku tranzystorw, takłe stabiliza- jest zabezpieczone, naleły unikaĘ
ci: długości impulsu (T) oraz tory dodatnie i ujemne powinny jego zwarcia do masy, gdył grozi
oporności (R) oblicza si pojem- w czasie testu znaleĘ si we uszkodzeniem wtrnika.
nośĘ (C) badanego kondensatora. właściwych gniazdach pomiaro-
wych. Do wyprowadzenia Vi Posługiwanie si testerem
Testowanie tranzystorw sprawdzanego stabilizatora naleły Po dołączeniu do testera na-
Wykorzystując tranzystory doprowadziĘ napicie o wartości picia zasilającego na wyświetla-
w najprostszych zastosowaniach co najmniej 2, 3V wikszej od czu LCD pojawia si napis
jako przełączniki lub proste napicia stabilizacji układu. Na- Tester elementw, a poniłej
Elektronika Praktyczna 3/2001
13
Tester elementów elektronicznych
symbol przycisku S2 i napis podzakresw pomiarowych są na-
WYKAZ ELEMENTÓW
rodzaj, a obok symbol przycis- stpujące:
Rezystory
ku S1 i napis offset. Naciskanie 1 podzakres
R1, R3, R4, R10, PR1, PR2: 10k&!
przycisku S2 powoduje wybr 10pF..170pF 10H..69H
PR3: 47k&!
rodzaju testw. W przypadku tes- 2 podzakres
towania kondensatorw i dławi- 170pF..687pF 69H..274H R2, R5, R6, R8, R18: 1k&!
kw są one przeprowadzane cyk- 3 podzakres
R9: 27k&!
licznie. Pojawiający si na pier- 687pF..2,7nF 274H..1mH
R11: 30k&!
wszej pozycji, w dolnej linii wy- 4 podzakres
R12: 2,7k&!
świetlacza, symbol wykrzyknika 2,7nF..11nF 1mH..4,4mH
R13: 430&!
(!) oznacza, łe przyrząd jest 5 podzakres
R14: 15k&!
w fazie pomiaru. Znak nawiasu 11nF..43nF 4,4mH..17,6mH
R15: 4,7k&!
trjkątnego (>) oznacza, łe wy- Ustawienie offsetu przebiega
R16: 5,1k&!
świetlany jest wynik pomiaru. nastpująco:
R17: 3k&!
Niekiedy pomiar dokonywany jest 1. Naleły przygotowaĘ po jed-
Kondensatory
tak szybko, łe znak (!) praktycz- nym kondensatorze i dławiku
C1: 2,2F/16F
nie si nie pojawia. Z kolei pod- o wartości pojemności i indukcyj-
C2, C3: 27pF
czas testowania kondensatorw ności z podanych przedziałw.
elektrolitycznych o dułej Najlepiej jełeli wartości tych ele- C4, C9, C10, C13, C16, C18,
pojemności pomiar mołe trwaĘ mentw zostaną wcześniej zmie- C19, C20: 100nF
nawet ponad minut. Pojawienie rzone za pomocą mostka lub
C5: 10F/16V
si jako wyniku pomiaru słowa innego przyrządu pomiarowego.
C7: 15pF
HIGH lub LOW oznacza, łe 2. Kondensator o znanej war-
C8: 1/16V
uzyskany wynik wykracza poza tości pojemności, np. 100pF, na-
C11, C12: 220pF
dostpny zakres pomiarowy. Mo- leły włołyĘ do gniazda pomiaro-
C14, C15: 220F/50V
łe to takłe oznaczaĘ, łe badany wego i ustawiĘ tester na pomiar
C17: 1000F/25V
element jest uszkodzony. małych pojemności.
C21: 100F/16V
W czasie testowania tranzysto- 3. Kiedy w dolnej linii wy-
Półprzewodniki
rw, przyciskiem S1 (offset) wy- świetlacza pojawi si znak (>),
D1: mostek prostowniczy
biera si polaryzacj tranzystora. naleły jednocześnie nacisnąĘ
T1, T2: BC547
Napis w dolnej linii sprawny przyciski S2 i S1. Powinien po-
T3, T4: BC557
oznacza, łe tranzystor przeszedł jawiĘ si napis kor. Oznacza to
pomyślnie test. włączenie trybu offsetu. U1: 89C51/24MHz
Po wybraniu funkcji generato- 4. Naciskając przyciski S2 i S1
U2: LCD 2x16
ra, czstotliwośĘ generowanych naleły skorygowaĘ wyświetlaną
U3: 24C02 EEPROM
impulsw wynosi 1Hz. Jej zmiana wartośĘ pojemności mierzonego
U4: 79L05
nastpuje po naciśniciu przycis- kondensatora tak, aby była naj-
U5: 74LS151
ku S1 (offset). WartośĘ wybranej bliłsza wartości rzeczywistej.
U6: NE521
czstotliwości mołna odczytaĘ na 5. Ponowne jednoczesne naciś-
U7: MC1648
dolnej linii wyświetlacza. nicie przyciskw S2 i S1 koczy
U8: 74LS163
tryb ustawiania offsetu dla tego
U9: NE555
Ustawianie offsetu zakresu pojemności. WartośĘ no-
U10, U11: TL497AC
MłliwośĘ ustawienia offsetu wego offsetu zostanie zapamitana
U12: 7805
pozwala skorygowaĘ rozrzuty war- w pamici EEPROM.
tości parametrw elementw uły- W ten sam sposb naleły wpro- Różne
tych do budowy testera i zwik- wadziĘ poprawk dla pozostałych
JP1, JP15..JP17: gniazda typu
szyĘ dokładnośĘ pomiaru. W przy- podzakresw pojemności i induk- ARK2 małe
padku pomiaru małych wartości cyjności.
JP2..JP7, JP9..JP12: listwa gniazd
pojemności i indukcyjności, war- Dla kondensatorw o dułych
 precyzyjnych
tośĘ offsetu zapamitana w pami- wartościach pojemności ustawia
JP8, JP14: gniazda typu ARK2
ci EEPROM uwzgldnia poprawk si jeden offset dla całego zakresu
duże
wartości parametru drugiego ele- pomiarowego. Naleły wwczas
JP13: gniazdo zasilania
mentu obwodu rezonansowego. wykonaĘ czynności analogiczne
L1, L2: 200H
Dla pomiaru dułych wartości po- do opisanych powyłej, oczywiście
L3: 10H
jemności w offsecie zawarta jest wybierając wcześniej test pomiaru
PK2, PK1: przekaznik typu OMRON
poprawka rzeczywistej wartości kondensatorw o dułych pojem-
5V
oporności opornika R10. Funkcja nościach.
S1, S2: SW miniaturowe przyciski
pomiaru małych pojemności i in- Istnieje takłe mołliwośĘ wy-
astabilne
dukcyjności pozwala ustawiĘ i za- zerowania wszystkich offsetw.
X1: 24MHz
pamitaĘ offset oddzielnie dla 5 Jełeli w momencie włączenia za-
podstawka DIP40
podzakresw pomiarowych, ktre silania bdziemy naciskali przy-
podstawka DIP16
przyrząd automatycznie wybiera cisk S1, na wyświetlaczu pojawi
podstawka DIP14
podczas testowania danego ele- si napis offset =0. Jełeli teraz
podstawka DIP8
mentu. Wartości poszczeglnych naciśnity zostanie przycisk SW2,
Elektronika Praktyczna 3/2001
14
Tester elementów elektronicznych
wszystkie ustawione wcześniej konieczne okałe si połołenie Po uruchomieniu zasilaczy
offsety zostaną wyzerowane. kondensatora C1 (na płytce prze- mołna zamontowaĘ pozostałe
Naciśnicie przycisku SW1 ozna- widziano w tym celu wystarcza- układy scalone i wyświetlacz.
cza rezygnacj z wykonania tej jąco duło wolnego miejsca). Po ustawieniu kontrastu poten-
funkcji. W prototypie wyświetlacz zamon- cjometrem PR1, na wyświetla-
towałem za pomocą 16-stykowego czu powinny pojawiaĘ si
Montał i uruchomienie złącza. Dziki temu mołe on byĘ wszystkie opisane wcześniej in-
Tester zaprojektowano jako odłączany od testera i wymiennie formacje. Ostatnim krokiem uru-
przyrząd podrczny, w postaci uływany w innych urządzeniach. chomienia bdzie sprawdzenie
płytki drukowanej z zamontowa- Dodatkowo, w grnej czści poprawności wszystkich testw
nymi elementami lecz bez obudo- płytki drukowanej znajdują si oraz ewentualnie ustawienie of-
wy. W takiej postaci, jako gniazda opisy funkcji poszczeglnych fsetu. Poniewał w pamici EEP-
pomiarowe elementw wykorzys- gniazd i elementw regulacyjnych, ROM mogą byĘ zapisane przy-
tane zostały listwy gniazd precy- aby ułatwiĘ posługiwanie si tes- padkowe wartości, naleły
zyjnych, w ktrych łatwo mołna terem. uprzednio ją wyzerowaĘ w spo-
umieściĘ badane elementy o rł- Uruchomienie naleły rozpocząĘ sb wcześniej opisany.
nej długości i grubości wyprowa- od sprawdzenia, czy napicie Vcc
dze. Zastosowane listwy powin- ma wartośĘ +5V. Mołna to bez- Wskazwki eksploatacyjne
ny mieĘ otwory o nieco wikszej pośrednio sprawdziĘ na gniedzie W przypadku wyświetlacza
średnicy nił te uływane do mo- JP14. Nastpnie naleły przystąpiĘ z podświetleniem przyrząd po-
cowania np. układw scalonych. do kontroli przetwornic napicia biera dosyĘ duło prądu (ok.
Dziki temu mołna w nich umieś- dodatniego i ujemnego. Wartości 400mA) i stabilizator U12 mołe
ciĘ zarwno elementy o cienkich elementw zostały dobrane tak, si przegrzewaĘ. Jeśli tester za-
wyprowadzeniach, jak i te z gru- aby przetwornice w skrajnych po- silany jest napiciem o wartości
bymi kocwkami, np. kondensa- łołeniach potencjometrw dostar- wikszej od 9V, naleły zastoso-
tory elektrolityczne czy stabiliza- czały napiĘ wyjściowych z prze- waĘ radiator.
tory. Listwy o odpowiedniej licz- działu 7-25V (analogicznie dla W czasie pracy z testerem
bie stykw naleły wlutowaĘ do napicia ujemnego). Pomiaru oby- stwierdziłem, łe niektre stabili-
gniazd JP4, JP5, JP6, JP7, JP9, dwu napiĘ mołna dokonaĘ na zatory szeregowe, szczeglnie na-
JP10, JP11, JP12, JP2, JP3. W styku Vi gniazd JP9 i JP10. Zakres picia ujemnego, sprawdzane
pozostałych przypadkach zastoso- otrzymywanych napiĘ mołna w opisany sposb mogą sprawiaĘ
wano małe i wiksze gniazda typu zmieniĘ dobierając oporniki R11, wrałenie uszkodzonych. Do pra-
ARK wlutowywane do druku. Je- R13 oraz R12, R14. W przypadku widłowej pracy wymagają bowiem
łeli przyrząd miałby posiadaĘ napicia ujemnego nie naleły niewielkiego obciąłenia. Dołącze-
obudow, wszystkie gniazda trze- ustawiaĘ jego minimalnej wartości nie opornika 5,1k&! do wyjścia
ba oczywiście wyprowadziĘ na poniłej -7V. Napicie ujemne jest pomiarowego JP16 rozwiązało ten
zewnątrz, a takłe zapewniĘ do- bowiem wykorzystywane w pracy problem.
stp do przyciskw, potencjomet- układu przy pomiarze małych war- Ryszard Szymaniak, AVT
rw i wyświetlacza. tości pojemności i indukcyjności. ryszard.szymaniak@ep.com.pl
Układ mołna montowaĘ w do- Jeśli to napicie, regulowane po-
wolnej kolejności, chociał oczy- tencjometrem PR3, bdzie miało Wzory płytek drukowanych w for-
wiście najwygodniej zacząĘ od mniejszą wartośĘ, komparator U6 macie PDF są dostpne w Internecie
najmniejszych elementw. W przy- nie bdzie działał poprawnie i po- pod adresem: http://www.ep.com.pl/
padku, gdy wyświetlacz montowa- miar wartości parametrw ele- ?pdf/marzec01.htm oraz na płycie
ny jest bezpośrednio na płytce, to mentw nie bdzie mołliwy. CD-EP03/2001B w katalogu PCB.
Elektronika Praktyczna 3/2001
15


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
20?danie i naprawa elementów elektrycznych
07 Dobieranie i sprawdzanie elementów elektronicznych
Elementy Elektroniczne test
AVT2755 UNIWERSALNY TESTER ELEMENTÓW OPTOELEKTRONICZNYCH 16 zł
Elementy elektroniczne stosowane w UTK
Badanie elementów elektrycznych i elektronicznych stosowanych w instalacjach pojazdów samochodowych
Elementy elektryczne
MIĘDZYNARODOWY TRANSPORT PONADGABARYTOWY NA PRZYKŁADZIE ELEMENTÓW ELEKTROWNI WIATROWYCH
Spis elementów elektronicznych
elementy elektroniczne
Elementy Elektroniczne
symbole elementów elektronicznych
Symbole graficzne elementów elektronicznych

więcej podobnych podstron