8063591359

5

2>ii-^xP²

gdzie: Xj, - „i”-ta odchyłka od punktu , j”,

1 ^

xj = — > x jj - średnia arytmetyczna odchyłek od celu w punkcie j, ⁿ i=l

n - liczna najazdów na punkt „j”.

4. Pomiary odchyłek ustalania położenia

Rosnąca ciągle dokładność maszyn wymaga, aby narzędzia pomiarowe cechowały się dokładnością przynajmniej o rząd wyższą. Dla większości obecnie wytwarzanych maszyn wymaganiom tym są w stanie sprostać tylko interferometry laserowe. Interferometry laserowy z różnego typu oprzyrządowaniem optycznym są najwyższej klasy przyrządami pomiarowym wykorzystywanym do kontroli geometrycznej maszyn. Ich zastosowania obejmują pomiary odchyłek pozycjonowania liniowego i kątowego, prostoliniowości, prostokątności, równoległości i płaskości. Możliwa jest też automatyczna transmisja współczynników korekcji liniowej do popularnych sterowników CNC.

Do pomiaru wykorzystuje się system laserowy w konfiguracji: głowica laserowa, układ kompensacji, optyka do pomiarów liniowych i komputer z. oprogramowaniem (rys.5).

Rys.5. Schemat blokowy laserowego systemu pomiarowego 4.1.Zasada działania

Interferometria to technika pomiaru, która wykorzystuje długość fali świetlnej jako jednostkę pomiarową. Laser znajduje w niej zastosowanie, ponieważ stanowi źródło promieniowania spójnego, co oznacza, że wszystkie wysyłane przez źródło fale mają taką samą długość oraz są dokładnie w fazie. Długość fali lasera HeNe (światło czerwone) wynosi

Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
38 (50) Ru = Ri*y / cos a / cos Yd. Rr = RR.y / COS p / cos Yr gdzie: Yo. Yr - kąty odchylenia od po
15 (134) Wysokość boczna kadłuba II jest to mierzona w płaszczyźnie owręża odległość od punktu przec
DSCN1645 52 I. /Wstali<y procett)ii> ntilrwntciych gdzie: /i ulała, q bariera enorgetyczna prz
choroszy7 1 " 87 przy czym średnia wartość odchyłek x = — gdzie: xj - wartość i-tej odchyłki,
img165 (8.54) gdzie S£ jest reszlowym średnim kwadratem odchyleń od prostych równoległych (suma SKMW
P1020081 (3) odchylenie dla punktu P
skrypt007 gdzie: cov (x,y) - kowariancja zmiennych x, y, s    - odchylenie stand
IMAG0286 (3) - 6 - -7- Na terenach zachodnich i północnych odzyskanych przez Polskę po II wojnie, gd
52 II. Chemiczne i fizykochemiczne metody rozdzielania 6. Neutralizacja53 Tabela 6.1. Zużycie reagen
s 8¥ V -£.2. Iks *s *tih 51 I ;li l-i U. P H*l 3 *i st -52 f*l M ii hi •• «“*

więcej podobnych podstron