8107621174

II Konferencja Naukowa KNWS 05 "Informatyka- sztuka czy rzemiosło" 15-18 czerwca 2005, Zlotniki Lubańskie

Elektroniczny symulator rezystancji

Jan Szmytkiewicz

Instytut Informatyki i Elektroniki, Uniwersytet Zielonogórski 65-246 Zielona Góra, ul. Podgórna 50

e-mail j. szmytkiewicz @iie.uz■ zgora.pl

Streszczenie

W celu sprawdzania przyrządów pomiarowych przeznaczonych do współpracy z czujnikami termoelektrycznymi można zastosować dekadę rezystorów wzorcowych, dekadę rezystancyjną z wzorcowym omomierzem lub elektroniczny symulator rezystancji. W artykule porównano wady i zalety trzech rodzajów wzorców oraz przybliżono konstrukcję i parametry metrologiczne, opracowanych przy współudziale autora jako konstruktora prowadzącego, dekady rezystancyjnej z wzorcowym omomierzem - kalibratora typu C403 i elektronicznego symulatora rezystancji - kalibratora typu C405. Dla obu przyrządów przedstawione zostały schematy blokowe i krótko omówiono zasadę działania.

1. Wprowadzenie

Liczną grupą przyrządów kontrolno pomiarowych są mierniki, regulatory, rejestratory temperatury oraz przetworniki pomiarowe temperatury na standardowy sygnał wyjściowy [1] przeznaczone do współpracy z czujnikami termorezystancyjnymi. Czujniki termorezystancyjne są to elementy, których rezystancja zmienia się wraz ze zmianą temperatury według określonej przez producenta charakterystyki przetwarzania. Do budowy czujników stosuje się trzy podstawowe materiały: platynę, nikiel i miedź. W tabeli 1 zestawiono na podstawie normy EN60751 parametry wybranych czujników termorezystancyjnych reprezentatywnych dla każdej grupy materiałowej.

Tab. 1. Parametry wybranych czujników termorezystancyjnych

Rodzaj	Parametry techniczne
czujnika	Zakres		Dopuszczalna odchyłka
	[°C]		[°C]	[Q]
PtlOO	-200... +850	18,52... 390,48	±0,15 ...±1,45	±0,06... ±0,46
Ni 100	-60....+180	69,51 ... 223,10	±0,30 ...±1,70	±0,17 ...±1,39
Cu 100	-50...+180	78,70.. 176,68	±0,30... ±0,90	±0,13...±.0,40

257

Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
II Konferencja Naukowo-TechnicznaTechnologie informatyczne w ochronie i kształtowaniu
II Konferencja Naukowo-TechnicznaTechnologie informatyczne w ochronie i kształtowaniu

więcej podobnych podstron