3725451232
• współczesne problemy podstaw metrologii; dydaktyka metrologii
- teoria i modelowanie systemów pomiarowych,
- wzorce i wielkości odniesienia; pomiary dokładne, wzorcowanie i metrologia prawna,
- pomiary kwantowe, wzorce kwantowe,
- błędy, niepewności, wrażliwość,
- dydaktyka metrologii; plany studiów, nowe treści w podręcznikach.
Łódź, 24 - 26 września 2007
W dniach 24 - 26 września odbędzie się XXXIX Międzyuczelniana Konferencja Metrologów.
Organizatorem Konferencji jest Katedra Automatyzacji Procesów Włókienniczych Politechniki Łódzkiej.
Tematyka Konferencji obejmuje:
• podstawowe problemy metrologii - wzorce i wzorcowanie, niedokładność pomiaru, pomiary: kwantowe, dokładne, teoria systemów pomiarowych, filozofia pomiaru;
• metrologię wielkości elektrycznych i nieelektrycznych - pomiary: elektryczne, magnetyczne, temperatury, optyczne, mechaniczne, chemiczne, włókiennicze, biomedyczne, w mikro- i nanotechnologii;
• przyrządy i systemy pomiarowo-kontrolne - inteligentne czujniki pomiarowe, wirtualne przyrządy pomiarowe, rozproszone systemy pomiarowo-kontrolne, mikrosystemy pomiarowe, systemy wbudowane, komunikacja czlowiek-komputer w metrologii, tekstroniczne systemy pomiarowo-kontrolne;
• cyfrowe przetwarzanie i analizę sygnałów pomiarowych - filtracja cyfrowa, analiza: częstotliwościowa, czasowo-częstotliwościowa, falkowa, przetwarzanie obrazów, eksploracja danych (data mining), sieci neuronowe;
• zastosowania metrologii - diagnostyka: techniczna, medyczna, pomiary środowiskowe, biometria, pomiary przemysłowe, telekomunikacja, bezpieczeństwo;
• dydaktykę metrologii - technologię informacyjną w edukacji, wirtualne laboratorium, zdalny dostęp do laboratorium, e-learning, metodykę nauczania, nowe podręczniki i programy.
Będlewo koło Poznania, 25 - 27 września 2007
W dniach 25 - 27 września odbędzie się VIII Krajowe Sympozjum Kolorymetryczne, w organizacji którego tradycyjnie weźmie udział Główny Urząd Miar, a członkami Komitetu Organizacyjnego będą po raz ósmy pracownicy Zakładu Promieniowania Optycznego GUM. Tematyka Sympozjum obejmie szeroki wachlarz zagadnień związanych z pomiarami w kolorymetrii i spektrometrii oraz aspektami psychofizycznymi barwy. Przewiduje się, że problemy poruszone w referatach i komunikatach będą nawiązywały do motta sympozjum „Fizyka i psychofizyka barwy”, a jednocześnie rozwijały zagadnienia poruszane na dotychczasowych spotkaniach sympozjalnych. Sympozjum odbędzie się pod patronatem Prezesa Głównego Urzędu Miar.
Lepszemu zorientowaniu się w tematyce poprzednich siedmiu sympozjów kolorymetrycznych służyć może informacja dostępna na stronie internetowej organizatorów, gdzie znaleźć można spisy treści materiałów konferencyjnych publikowanych w latach 1996 - 2005.
http://www.gum.gov.pl/pl/site/organizacja/zaklady/optyczny/
8
V
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
Wstęp Skrypt pt. „Ćwiczenia laboratoryjne z podstaw metrologii" obejmuje problemy praktyczne
IMAG0753 (2)
00*00000Schemat analizy problemu PODSTAWY KOMPUTEROWEGO MODELOWANIA USTROJÓW... oooooooooo MCN - met
IMG 120320 1031 Informacje podstawowe!Metrologia _ wymiarów otworu i walka przed ich : połąivcmem, g
skanuj0001(4) WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNALaboratorium Podstaw Metrologii Ćwiczenie nr 1 Temat: Opra
skanuj0002(4) wojskowa akademia technicznaLaboratorium Podstaw MetrologiiPROTOKÓŁ POMIARÓWTemat : Po
00*00000Schemat analizy problemu PODSTAWY KOMPUTEROWEGO MODELOWANIA USTROJÓW... ooooooooo MRS - meto
Pojęcia podstawowe: Metrologia jest nauką zajmująca się sposobami dokonywania pomiarów oraz zasadami
Współczesne problemy energetyki 13 Literatura 1. Podstawowe dane - Rynek energii
00*00000Schemat analizy problemu PODSTAWY KOMPUTEROWEGO MODELOWANIA USTROJÓW... oooooooooo MCN - met
47888 okładka
viewer POLITECHNIKA LUBELSKA Zarządzanie i Inżynieria Produkcji LABORATORIUM PODSTAW METROLOGII Ćwi
z (12) MASZYNOZNAWSTWO PRZEMYSŁU SPOŻYWCZEGO Podstawy metrologii przemysłowej, zadania miernictwa
Podstawy metrologii • miarę niedokładności pomiaru wielkości mierzonej, czyli miarę rozbieżności
Rozdział 5: Podstawy - Metrologia Poziom 1 - Podstawowy U1-5-F1Spis treści:_ •
więcej podobnych podstron