7008824010

Etap pisemny egzaminu

2.6. Określać wpływ parametrów poszczególnych elementów i podzespołów na pracę

układów i urządzeń elektronicznych,

czyli:

• określać reakcję układów oraz urządzeń elektronicznych na zmiany wartości parametrów poszczególnych elementów i podzespołów, np.: określać reakcję wzmacniacza selektywnego na zmiany wartości napięcia sterującego diodą pojemnościową w obwodzie rezonansowym.

Przykładowe zadanie 10.

Zwiększenie pętli histerezy regulatora dwustawnego w układzie regulacji

A.    spowoduje zmniejszenie amplitudy zmian sygnału sterowanego.

B.    nie wpłynie na przebieg sygnału.

C.    spowoduje zwiększenie amplitudy zmian sygnału sterowanego.

D.    spowoduje przesunięcie przebiegu w górę o szerokość pętli histerezy.

2.7. Określać rodzaj uszkodzenia w układach i urządzeniach elektronicznych na

podstawie opisu, podanych wyników pomiarów,

czyli:

• określać rodzaj uszkodzenia na podstawie wniosków wynikających z porównania danych uzyskanych w wyniku pomiaru z danymi przewidywanymi podczas bezawaryjnej pracy układu lub urządzenia elektronicznego, np.: zwarcie lub przerwa.

Przykładowe zadanie 11.

Licznik modulo 10 jest uszkodzony i zlicza do 16. Jaka jest przyczyna wadliwej pracy licznika?

A.    Przerwa w obwodzie QD - we 2.

B.    Przerwa w obwodzie QB - we 1.

C.    Przerwa w obwodzie C - wy.

D.    Zwarcie wyjścia bramki do masy.

Wyszukiwarka