Laboratorium Elektroniki cz II 9

Laboratorium Elektroniki cz II 9



16

1.3. Zasady organizacyjne ochrony przeciwporażeniowej w laboratoriach Instytutu Elektroniki

1.    Na terenie budynku Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki stosowana jest sieć zasilająca prądu przemiennego 380/220 V z uziemionym punktem zerowym W związku z tym w laboratoriach obowiązuje zerowanie ochronne urządzeń elektrycznych. W tej sytuacji dodatkowe uziemienie urządzeń lub stosowanie uziemienia zamiast zerowania jest niedopuszczalne.

2.    Stanowiska pomiarowe znajdują się na podłodze źle przewodzącej, tj. o rezystancji R > 50 kQ.

3.    Stanowisko pomiarowe obsługiwane jest przez sekcję laboratoryjną złożoną z 2-3 studentów.

4.    Studenci dokonują połączeń układów pomiarowych, przy wyłączonych napięciach zasilających stanowiska pomiarowe

5.    Wączenie napięć zasilających stanowisko pomiarowe dokonuje prowadzący ćwiczenia. po uprzednim sprawdzeniu połączeń układu i ustaleniu merytorycznego programu ćwiczenia. Od tego momentu sekcja studencka traktowana jest jako osoby upoważnione do wykonywania pomiarów w zakresie ustalonym przez prowadzącego ćwiczenia

6.    Pomimo zabezpieczeń na obudowie załączonego do sieci urządzenia elektrycznego może wystąpić napięcie Dlatego przy pierwszym kontakcie należy dotknąć urządzenia zewnętrzną stroną dłoni (aby przy ewentualnym skurczu mięśni automatycznie odłączyć się od będącego pod napięciem urządzenia).

7 Nie należy jednocześnie dotykać dwóch różnych urządzeń elektrycznych.

8.    Nie należy jednocześnie dotykać urządzenia elektrycznego i instalacji uziemiającej (c o , wodociąg, taśma uziemiająca).

9.    Autotransformatory należy stosować wraz z transformatorami izolującymi od sieci

10.    Przy użyciu nieznanych ćwiczącemu przyrządów należy zapoznać się z instrukcją ich obsługi.

11 W układzie pomiarowym będącym pod napięciem nie wolno dotykać nieizolowa-nych części metalowych.

12. Przy użyciu wielofunkcyjnych przyrządów pomiarowych należy zwracać uwagę na wybranie odpowiedniej wielkości pomiarowej oraz dobór właściwego zakresu pomiarowego.

powered by

Mi siol

II. PRZEBIEG POMIARÓW W LABORATORIUM ELEKTRONIKI

Laboratorium układów elektronicznych ma za zadanie zapoznanie studentów z właściwościami podstawowych układów elektronicznych przez samodzielne pomiary podstawowych parametrów technicznych oraz charakterystyk tych układów Niezwykle istotnym zagadnieniem jest nauka właściwej interpretacji uzyskanych wyników pomiarowych, co z jednej strony wiąże się z dogłębnym rozumieniem istoty fizycznych procesów zachodzących w badanych elementach i jest niezbędne dla właściwego stosowania ich w praktyce, a z drugiej strony wymaga znajomości stosowania właściwych metod i przyrządów pomiarowych, tak aby pomiary były źródłem poszukiwanej, a nie fałszywej informacji.

Interesujące nas wyniki pomiarowe będą otrzymywane w laboratorium za pomocą pomiarów bezpośrednich w przypadku, gdy do pomiaru danego parametru istnieje gotowy specjalizowany przyrząd pomiarowy lub za pomocą pomiarów pośrednich w sytuacji, gdy w celu uzyskania poszukiwanej wielkości niezbędne będą pomiary wielkości pośrednich, które należy następnie odpowiednio przekształcać na drodze obliczeniowej lub graficznej.

Wynik każdego pomiaru obarczony jest błędami, których przyczynami mogą być niedoskonałość metody i przyrządów pomiarowych, niedoskonałości ludzkich zmysłów oraz trudne do opanowania lub zmieniające się w czasie pomiaru wartości wielkości wpływających Wśzystkie błędy, które mogą przyczynić się do zniekształcenia wyniku pomiaru, można podzielić na trzy zasadnicze grupy:

a)    Błędy przypadkowe - o nieznanej bliżej wartości i przyczynach powstawania błędy te nie mogą być usunięte na drodze stosowania poprawek Ich wpływ na wynik pomiaru można oszacować statystycznie

b)    Błędy systematyczne - o wartości stałej lub zmieniającej się według określonego prawa Wartość tych błędów można ściśle określić i w znacznej części usunąć przez stosowanie poprawek. Przyczynami ich powstawania są najczęściej błędy


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
!Laboratorium Elektroniki cz II Title praca zbiorowa pod redakcjąKrzysztofa Zioło 48.000 ni MO nł/
Laboratorium Elektroniki cz II 2 OPINIODAWCA Prof. dr inż. Tadeusz Zagajewski KOLEGIUM REDAKCYJNE
Laboratorium Elektroniki cz II 3 powered byMi siolSPIS
Laboratorium Elektroniki cz II 4 powered byMi sio!PRZEDMOWA Ćwiczenia prowadzone w laboratorium e
Laboratorium Elektroniki cz II 5 8 Jednym z celów zajęć laboratoryjnych jest nabycie umiejętności
Laboratorium Elektroniki cz II 6 10 kT - temperaturowy współczynnik stabilizacji K - współczynnik
Laboratorium Elektroniki cz II 7 <p, >(/ - kąty fazowe (pi - potencjał elektrokinetyczny t]
Laboratorium Elektroniki cz II 1 20 Błąd względny pomiaru możemy wyrazić za pomocą wyrażenia. 5X
Laboratorium Elektroniki cz II 2 22 rezystancja Ra powinna być pomijalnie mała w stosunku do rezy
Laboratorium Elektroniki cz II 3 24 5. Osie układu współrzędnych muszą być opisane, tzn obok osi
Laboratorium Elektroniki cz II 4 26 Elementy prostownicze stosowane w układach realizujących omaw
Laboratorium Elektroniki cz II 5 28 Rys. 1.2. Prostownik pełnookresowy z obciążeniem rezystancyjn
Laboratorium Elektroniki cz II 6 30 obciążenia i widoczna jest krótka przerwa, gdy prąd jednej di
Laboratorium Elektroniki cz II 7 32 impulsy prądu płynącego przez poszczególne diody zbliżają się
Laboratorium Elektroniki cz II 8 34 Rys. 1.8. Prostownik pełnookresowy obciążony obwodem równoleg
Laboratorium Elektroniki cz II 9 36 sator Ci, zostaje zakłócone w związku z tym, że w tym czasie
Laboratorium Elektroniki cz II 0 38 elementu wejściowego filtru Dla układów a i d diody przewodzą
Laboratorium Elektroniki cz II 1 40 Rys. 1.13. Przykładowe charakterystyki statyczne diod prostow

więcej podobnych podstron